
主营:
视觉检测/UV固化光源、液体自动化控制设备、防静电系统/部品、进口环境检测仪、工业测量仪器仪表

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产品展示
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AxoScan 在 30 毫秒内同时测量样品所有可能的偏振特性。各种特定于应用的分析软件为几乎所有偏振相关设备或行业提供易于理解的数据。
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美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技 美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技
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应用范围: 液晶(LCD)Cell Gap、Pre-tiltangle、Rubbing direction、twist angle量测 多波长延迟片/相位差板(In Plate or Out of Plate)测量 偏光片(板)测量多层膜(R0,Rth,B) 快轴方位角度测量(Fast Axis Orientation) 3D Film的测量(FPR) 多面向的LCD的量测(PSVA Multi一Domain) 搭配软件应用,可量测膜厚、n/k值 根据不同机型,搭配不同软件应用,可量测膜厚、n/k值 LCOS Cell Gap的测量 LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量(须根据选配内容而定) 去极化量测
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Axometrics偏光测定仪,为目前偏极化量测中*快速的测量系统 快速测量快轴方位角度(Fast-axis Orientation)、相位延迟(Retardance)、偏光(Polarization) 线性/椭圆/圆形的偏极化测量 多波长Retardance频谱的R0(400-800nm) 快速测量Biaxial Films R0、Rth和β(须视机型而定) 具有旋转/倾斜机构,于测量时旋转角度可**掌握(须视机型而定) 可承载*大样品尺吋:12吋(须视机型而定) 操作容易的软件接口 客制化测量模块组合
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共同特色: 使用旋转式PSCA系统搭配16位CCD相机 同一时间量测影像中的每一点位 每波长仅2.4秒 波长范围介于 250至1,000nm间 可选择欲使用镜头倍率 特点: 小区域的在线扫描 薄膜厚度的2D影像