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一、突破性测量架构
作为蔡司2025年推出的新一代复合式测量系统,O-DETECT采用"光学导航+接触式验证"的双模测量架构。其核心由三大子系统构成:
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8000万像素双远心光学系统:配备7波长可调LED光源,通过自适应曝光技术可清晰捕捉0.01mm的微小特征
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多传感器融合平台:集成VAST XXT接触式测头与激光位移传感器,实现μm级测量精度(0.9+L/350)μm
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智能环境补偿模块:内置温度/湿度/振动三轴补偿系统,确保车间环境下仍保持实验室级稳定性
二、智能测量工作流
设备的"3-Step智能测量流程"显著提升效率:
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全域扫描阶段:通过0.5秒高速全景扫描建立工件数字孪生模型
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特征识别阶段:AI算法自动标注284类GD&T特征,识别率达99.2%
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精准复核阶段:对关键尺寸自动切换接触式测量,消除光学测量边缘效应
三、行业应用实践
在精密电子制造领域表现尤为突出:
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PCB板检测:可同时测量焊盘直径(±1μm)、板翘曲度(0.02mm/m)等23项参数
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微型连接器:对0.3mm间距的pin针实现全自动分组测量
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医疗器械:满足ISO 13485标准对表面粗糙度(Ra 0.05μm)的检测要求
四、2025技术升级
*新版本新增两大功能:
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缺陷预测系统:通过历史数据训练,提前3小时预警测量漂移趋势
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跨设备协同:支持同时控制3台O-DETECT组成分布式测量网络