产品中心
产品详情
  • 产品名称:日本ASAHI朝日分光 光学式膜厚计

  • 产品型号:OMD-1000
  • 产品厂商:日本ASAHI朝日分光
  • 产品价格:0
  • 折扣价格:0
  • 产品文档:
你添加了1件商品 查看购物车
简单介绍:
这是一种光谱膜厚监测监视器,利用单色光来监测气相沉积过程中基材上光强度的变化。本公司自产的蒸镀装置也使用该装置,是凝聚了蒸镀部件制造商的专业技术的膜厚监视装置
详情介绍:

概述

波长范围广

以前的型号使用滤光片式波长选择方法,但新产品采用了我们经过验证的光谱仪,可以选择任何波长。
膜厚变化信号由电压输出变为与计算机兼容的数字输出,控制机构由手动操作变为利用计算机指令控制。此外,由于可以通过I/F直接连接到计算机来控制膜厚计,因此不需要像其他制造商那样使用控制器,使其成为极其紧凑的系统。

特征

  • 紧凑型设计,内置光谱仪
  • 提高抗噪性,实现高度可靠的膜厚监测(静电放电试验耐压±5kV)
  • 可通过PC命令自动控制
  • 通过将控制器集成到接收器主体中,实现了高性价比。

主机配置及接线

主机配置及接线

产品概要

连接到气相沉积设备以监测薄膜厚度。
可以如右图所示进行安装。

产品概述 反射式监控

反思性监视

产品概述 透明监控(弯灯泛光灯)

透明监控
(弯曲泛光灯)

产品概述 透明监控(直连泛光灯)

透明监控
(直连泛光灯)

商品构成

接收者

产品概述 接收器

泛光灯

产品概述 泛光灯

电源箱

产品概述 电源箱

凸起法兰
*包含在反光镜盒中

产品概述 凸式法兰


反光镜盒

产品概述 反光镜盒


透明镜盒

产品概述 透明镜盒

产品规格

模型 OMD-1000
光谱仪类型 车尔尼·特纳型单单色
波长范围 保证范围:380-900nm
可操作范围:350-1100nm
波长分辨率 狭缝 0.5mm: 4.2nm [546nm]
狭缝 1.0mm: 8.3nm [546nm]
波长精度 ±1.0nm
*小波长馈电 0.1纳米
外部控制 RS232C
外部输出端子 DC0~2V(满量程)
采样间隔 100ms以上
静电放电测试耐压 ±5kV(实际8kV)
光源 12V100W卤素灯
光强稳定性 ±0.1%/h以下
输入电压 交流100V 50/60Hz
允许输入电压 交流85~132V
视在功率 340VA以下
使用环境 温度:10-35℃
湿度:20-80%
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!